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HPR-20 DLS


 

 

用於氫同位素和輕質氣體的超高解析度和靈敏度分析

 

Hiden HPR-20 DLS氣體分析系統的配置是在接近大氣壓的壓力下對氣體和蒸汽進行連續分析,對於需要從更高壓力到30巴的直接取樣的應用提供替代的進口系統。質譜儀包括一個專門為低品質分析而設計的超高解析度模式,用於氫同位素和輕質氣體。


 

 

概述

Hiden HPR-20 DLS氣體分析系統的配置是在接近大氣壓的壓力下對氣體和蒸汽進行連續分析,對於需要從更高壓力到30巴的直接取樣的應用提供替代的進口系統。質譜儀包括一個專門為低品質分析設計的超高解析度模式,用於分析氫同位素和輕質氣體。


Hiden QIC石英襯裡採樣介面的工作溫度高達200℃,對大多數常見的氣體和蒸汽(包括水蒸氣)的快速回應時間小於300毫秒。


HPR-20 DLS包括海頓的DLS-20三濾四極杆質譜儀,極徑為20毫米。


品質範圍。DLS-20包括一個獨特的、使用者可切換的模式,允許DLS-20四極杆質譜儀在I區和H區穩定區運行,在H區穩定區的品質範圍內提供超高的解析度到20 amu,在I區穩定區的解析度非常高,達到200 amu。

 


 

 

 

產品特色

 

 

DMM-動態多模式掃描-獨特地應用於電子附著電離技術的電負性氣體研究

 

  品質範圍擴展到1000 amu的選項
 

  脈衝離子計數電子倍增器檢測器,具有7個十年的連續動態範圍
 

  對氣體濃度變化提供<300毫秒回應時間的QIC進氣口
 

  掃描速度快,用於瞬態分析的測量速度可達每秒650次
       

 

 

下載

 
    演講稿:  
  HPR-20 DLS 氫同位素和輕質氣體的超高解析度和靈敏度分析  
       
       
   
 

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Hiden HPR-20 DLS氣體分析系統的配置是在接近大氣壓的壓力下對氣體和蒸汽進行連續分析,對於需要從更高壓力到30巴的直接取樣的應用提供替代的進口系統。質譜儀包括一個專門為低品質分析而設計的超高解析度模式,用於氫同位素和輕質氣體。

 

 

概述

Hiden HPR-20 DLS氣體分析系統的配置是在接近大氣壓的壓力下對氣體和蒸汽進行連續分析,對於需要從更高壓力到30巴的直接取樣的應用提供替代的進口系統。質譜儀包括一個專門為低品質分析設計的超高解析度模式,用於分析氫同位素和輕質氣體。


Hiden QIC石英襯裡採樣介面的工作溫度高達200℃,對大多數常見的氣體和蒸汽(包括水蒸氣)的快速回應時間小於300毫秒。


HPR-20 DLS包括海頓的DLS-20三濾四極杆質譜儀,極徑為20毫米。


品質範圍。DLS-20包括一個獨特的、使用者可切換的模式,允許DLS-20四極杆質譜儀在I區和H區穩定區運行,在H區穩定區的品質範圍內提供超高的解析度到20 amu,在I區穩定區的解析度非常高,達到200 amu。

 

 

產品特色

 

DMM-動態多模式掃描-獨特地應用於電子附著電離技術的電負性氣體研究

 

品質範圍擴展到1000 amu的選項

 

脈衝離子計數電子倍增器檢測器,具有7個十年的連續動態範圍

 

對氣體濃度變化提供<300毫秒回應時間的QIC進氣口

 

掃描速度快,用於瞬態分析的測量速度可達每秒650次

     

 

 

下載

 
    演講稿:  
  HPR-20 DLS 氫同位素和輕質氣體的超高解析度和靈敏度分析  
       
   
 
 

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