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HPR-60 MBMS


 

 

一個用於分析中性物質、自由基和離子的系統

 

Hiden HPR-60分子束質譜儀是一個緊湊的撇渣器入口質譜儀,用於分析大氣等離子體和反應性氣相的中間體。


 

 

概述

自由基通過一個多級差分泵的撇渣器入口進行採樣,並在與其他物種的相互作用最小和無壁面碰撞的情況下轉移到MS離子源。可定制的入口允許連接到許多不同的反應器系統,包括大氣等離子體。


撇渣器系統與Hiden 三濾精密質譜儀相結合,提供了一個具有超快速回應和高精確度的採樣系統。

 


 

 

 

產品特色

 

 

常壓下的分子束採樣

 

  陽性和陰性離子分析
 

  用戶可更換的收油機錐體(可偏置)
 

  用於研究電負性自由基的電子附著電離模式
 

  APSI-MS軟電離模式用於自由基分析
 

  品質範圍選擇:300、510或1000 amu
 

  能量範圍選擇:100 eV或1000 eV
       

 

 

下載

 
    演講稿:  
  Hiden HPR-60分子束質譜儀(MBMS)用於定量分析活性氣體物種(介紹)  
  Hiden HPR-60分子束質譜儀(MBMS)用於定量分析活性氣體種類(應用)  
   
海報:
 
  分子束質譜儀的大氣等離子體分析  
  大氣壓力等離子體分析 ICPIG  
  加工等離子體的品質和能量光譜學 ISSP 2007  
  常壓等離子體中的分子束質譜法  
  組合式等離子體催化劑反應器的反應研究  
  等離子體輔助解吸電離質譜法(PADI-MS)的表面分析  
  用分子束質譜法進行時間分辨的大氣等離子體調查  
   
 

相關產品

 
  EQP Series  
  EPIC  
  PSM  
       
       
       
   

 

一個用於分析中性物質、自由基和離子的系統

 

Hiden HPR-60分子束質譜儀是一個緊湊的撇渣器入口質譜儀,用於分析大氣等離子體和反應性氣相的中間體。

 

 

概述

自由基通過一個多級差分泵的撇渣器入口進行採樣,並在與其他物種的相互作用最小和無壁面碰撞的情況下轉移到MS離子源。可定制的入口允許連接到許多不同的反應器系統,包括大氣等離子體。


撇渣器系統與Hiden 三濾精密質譜儀相結合,提供了一個具有超快速回應和高精確度的採樣系統。

 

 

產品特色

 

常壓下的分子束採樣

 

陽性和陰性離子分析

 

用戶可更換的收油機錐體(可偏置)

 

用於研究電負性自由基的電子附著電離模式

 

APSI-MS軟電離模式用於自由基分析

 

品質範圍選擇:300、510或1000 amu

 

能量範圍選擇:100 eV或1000 eV

     

 

 

下載

 
    演講稿:  
  Hiden HPR-60分子束質譜儀(MBMS)用於定量分析活性氣體物種(介紹)  
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