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MAXIM


 

 

一個用於靜態和動態SIMS和SNMS應用的系統

 

Hiden MAXIM四重SIMS分析儀是最先進的二次離子質譜儀,適用於正負、靜態、動態和中性分析應用。


MAXIM分析儀系統包括一個整體的能量篩檢程式,用於在與探針軸線成30°時接受離子,高透射率的SIMS提取光學器件,三重品質篩檢程式,脈衝離子計數檢測器和控制電子設備。


 

 

概述

30°的接受角使MAXIM的軸線與樣品平面平行安裝,為其他光或離子光學器件留下了清晰的取樣區域視野。MAXIM對樣品充電的耐受性使其成為分析絕緣體的理想探頭。另外,大的接受角允許大面積成像。

   

 

 

產品特色

 

 

品質範圍選擇:300amu、500amu或1000amu

 

  檢測器:離子計數檢測器,正負離子檢測,107cps
 

  品質篩檢程式:三重篩檢程式
 

  柱子直徑:9毫米
 

  烘烤:250°C
 

  離子能量篩檢程式:30°接受角
 

  電離器:電子轟擊,用於SNMS和RGA的單燈絲
       

 

 

下載

 
    演講稿:  
  Hiden SIMS | 分析性二次離子質譜儀產品  
  MCsn+分子離子--SIMS用於納米結構的直接化學分析,無需校準標準  
       
   
 

相關產品

 
  EQS  
  IG20  
  SIMS Workstation  
       
       
   

 

一個用於靜態和動態SIMS和SNMS應用的系統

 

Hiden MAXIM四重SIMS分析儀是最先進的二次離子質譜儀,適用於正負、靜態、動態和中性分析應用。


MAXIM分析儀系統包括一個整體的能量篩檢程式,用於在與探針軸線成30°時接受離子,高透射率的SIMS提取光學器件,三重品質篩檢程式,脈衝離子計數檢測器和控制電子設備。

 

 

概述

30°的接受角使MAXIM的軸線與樣品平面平行安裝,為其他光或離子光學器件留下了清晰的取樣區域視野。MAXIM對樣品充電的耐受性使其成為分析絕緣體的理想探頭。另外,大的接受角允許大面積成像。

 

產品特色

 

品質範圍選擇:300amu、500amu或1000amu

 

檢測器:離子計數檢測器,正負離子檢測,107cps

 

品質篩檢程式:三重篩檢程式

 

柱子直徑:9毫米

 

烘烤:250°C

 

離子能量篩檢程式:30°接受角

 

電離器:電子轟擊,用於SNMS和RGA的單燈絲

     

 

 

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