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產品專區
- Hiden Analytical
- Surface Analysis
- EQS SIMS Analyser
EQS SIMS Analyser
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產品特色 |
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高靈敏度的脈衝離子計數檢測器，具有7個十年的動態範圍 |
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光柵控制，用於增強深度剖析和成像，具有集成信號門控功能 | ||
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45°靜電扇形分析器，以0.05eV增量/0.25eV FWHM掃描能量 | ||
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離子飛行路徑的最小擾動和所有能量下的恒定離子傳輸 | ||
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三重過濾四極杆，品質選擇到5000 amu | ||
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Penning Gauge和聯鎖裝置提供過壓保護 | ||
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差壓泵選項用於高壓環境 | ||
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通過RS232、RS485或乙太網LAN進行MASsoft控制 | ||
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很容易與現有系統對接 | ||
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用於分析固體樣品的二級正負離子的系統
Hiden Analytical公司為離子分析提供世界級的質譜解決方案和創新工具，包括久經考驗的Hiden EQS。這種高傳輸靜電四極杆二次離子質譜儀（SIMS）是我們最受歡迎的檢測系統之一，用於研究規模的薄膜納米級表面分析。EQS SIMS分析儀是XPS和聚焦離子束FIB顯微鏡系統的理想附加分析儀。
概述
Hiden EQS是一種獨特的靜電四級杆SIMS檢測器，專門用於固體樣品中正(+ve)和負(-ve)二次離子的質譜分析。憑藉其集成的45°靜電扇形離子能量分析器，Hiden EQS可以同時分析離子能量，解析度為0.2電子伏特（eV）。這使得它成為質譜應用中最通用的離子分析工具之一，包括：
- 將XPS的靈敏度範圍擴大1000倍以上
- 動態和靜態SIMS
- 焦點離子束（FIB）質譜法
- 二次中性質譜(SNMS)
- 濺射深度分析
- 濺射離子和中性品質/能量分析
Hiden Analytical公司的離子分析工具
Hiden EQS是後市場系統的一個流行的螺栓配件，是XPS系統和聚焦離子束FIB顯微鏡系統等的理想補充，它提供了高靈敏度和可選的差分泵，以滿足用戶在一系列應用中的成像、深度分析和質譜要求。
如果您需要更多關於將我們的靜電四極杆SIMS工具整合到您現有的XPS系統、FIB顯微鏡系統中的資訊，或者您需要一個全新的離子分析解決方案，只需今天聯繫Hiden Analytical團隊的成員。
產品特色 |
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高靈敏度的脈衝離子計數檢測器，具有7個十年的動態範圍 |
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光柵控制，用於增強深度剖析和成像，具有集成信號門控功能 |
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45°靜電扇形分析器，以0.05eV增量/0.25eV FWHM掃描能量 |
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離子飛行路徑的最小擾動和所有能量下的恒定離子傳輸 |
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三重過濾四極杆，品質選擇到5000 amu |
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Penning Gauge和聯鎖裝置提供過壓保護 |
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差壓泵選項用於高壓環境 |
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通過RS232、RS485或乙太網LAN進行MASsoft控制 |
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很容易與現有系統對接 |
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