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Hiden Analytical
我們設計、開發和製造用於高級研究應用和專業過程監測的四極桿質譜儀。
我們的產品範圍包括：用於實時精確氣體分析的系統，多種氣體/蒸氣分析。通過直接測量Plasma離子和離子能量進行診斷。用於超高壓表面科學的SIMS探針，以及蝕刻終點檢測。具有自動分析功能的綜合完整的表面分析SIMS系統。一系列用於催化劑研究的微爐反應器，用於進行溫度編程分析，技術包括TPO/TPD/TPR和TPRx。
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SIMS工作站將動態和靜態SIMS分析與雙模式質譜儀結合起來，用於正(+ve)和負(-ve)離子檢測，以及額外的二級中性質譜(SNMS)檢測模式，為表面分析應用提供了卓越的靈活性。Learn MoreSIMS/SNMS 工作站 -
HPR-60 MBMS（分子束質譜儀）為分析正（+ve）和負（-ve）離子，以及中性和自由基進行了優化，使其成為等離子體和燃燒分析的強大解決方案。Learn MoreHPR-60 MBMS -
MBE應用中的多源沉積監測。高抗污染目的設計的四極杆，用於沉積率監測、源品質分析和高性能真空診斷。Learn MoreXBS -
一個用於超高壓溫度程式設計解吸（TPD/TDS）研究的系統。Learn MoreTPD 工作站 -
用於現有聚焦離子束（FIB）系統的高性能螺栓式二次離子質譜（SIMS）。Learn MoreFIB-SIMS 用於納米級材料分析