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MAXIM
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產品特色 |
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品質範圍選擇：300amu、500amu或1000amu |
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檢測器：離子計數檢測器，正負離子檢測，107cps | ||
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品質篩檢程式：三重篩檢程式 | ||
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柱子直徑：9毫米 | ||
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烘烤：250°C | ||
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離子能量篩檢程式：30°接受角 | ||
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電離器：電子轟擊，用於SNMS和RGA的單燈絲 | ||
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一個用於靜態和動態SIMS和SNMS應用的系統
Hiden MAXIM四重SIMS分析儀是最先進的二次離子質譜儀，適用於正負、靜態、動態和中性分析應用。
MAXIM分析儀系統包括一個整體的能量篩檢程式，用於在與探針軸線成30°時接受離子，高透射率的SIMS提取光學器件，三重品質篩檢程式，脈衝離子計數檢測器和控制電子設備。
概述
30°的接受角使MAXIM的軸線與樣品平面平行安裝，為其他光或離子光學器件留下了清晰的取樣區域視野。MAXIM對樣品充電的耐受性使其成為分析絕緣體的理想探頭。另外，大的接受角允許大面積成像。
產品特色 |
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品質範圍選擇：300amu、500amu或1000amu |
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檢測器：離子計數檢測器，正負離子檢測，107cps |
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品質篩檢程式：三重篩檢程式 |
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柱子直徑：9毫米 |
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烘烤：250°C |
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離子能量篩檢程式：30°接受角 |
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電離器：電子轟擊，用於SNMS和RGA的單燈絲 |
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