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Hiden Analytical
我們設計、開發和製造用於高級研究應用和專業過程監測的四極桿質譜儀。
我們的產品範圍包括：用於實時精確氣體分析的系統，多種氣體/蒸氣分析。通過直接測量Plasma離子和離子能量進行診斷。用於超高壓表面科學的SIMS探針，以及蝕刻終點檢測。具有自動分析功能的綜合完整的表面分析SIMS系統。一系列用於催化劑研究的微爐反應器，用於進行溫度編程分析，技術包括TPO/TPD/TPR和TPRx。
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Hiden HPR-40 DEMS是一個臺式或移動式推車安裝模組，用於分析電化學中的溶解物種。該系統是模組化的，適應性強。該系統包括兩個差分電化學質譜'DEMS'單元入口，設計用於材料/催化研究，單元類型A，和電化學反應研究，單元類型B。Learn MoreHPR-40 DEMS -
用於電化學中持續監測反應氣體與蒸氣 Hiden HPR-20 OEMS 氣體分析系統專為電化學過程設計，可在實時尺度上，依據外加電位連續監測與分析電化學反應中所釋放的氣體與蒸氣。Learn MoreHPR-20 OEMS -
用於現有聚焦離子束（FIB）系統的高性能螺栓式二次離子質譜（SIMS）。Learn MoreFIB-SIMS 用於納米級材料分析 -
一個獨特的專用系統，用於密封包裝的洩漏分析。該系統是自動化的，可在品質控制或研發環境中簡單使用，設計用於分析中小尺寸電池組的密封性。Learn MoreLAS