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Hiden Analytical
我們設計、開發和製造用於高級研究應用和專業過程監測的四極桿質譜儀。
我們的產品範圍包括：用於實時精確氣體分析的系統，多種氣體/蒸氣分析。通過直接測量Plasma離子和離子能量進行診斷。用於超高壓表面科學的SIMS探針，以及蝕刻終點檢測。具有自動分析功能的綜合完整的表面分析SIMS系統。一系列用於催化劑研究的微爐反應器，用於進行溫度編程分析，技術包括TPO/TPD/TPR和TPRx。
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用於現有聚焦離子束（FIB）系統的高性能螺栓式二次離子質譜（SIMS）。Learn MoreFIB-SIMS 用於納米級材料分析 -
一個獨特的專用系統，用於密封包裝的洩漏分析。該系統是自動化的，可在品質控制或研發環境中簡單使用，設計用於分析中小尺寸電池組的密封性。Learn MoreLAS -
一台臺式膜進樣質譜儀，設計用於分析液體、海水、河口、土壤核心和頂空中的氣體、蒸汽和揮發性有機化合物。選項包括比色皿、單入口和多入口、微分電化學質譜（DEMS）單元和酶動力學探頭。Learn MoreHPR-40 DSA-MIMS -
pQA可擕式四極杆分析儀是一種獨特的氣體分析解決方案，用於定量測量地下水、發酵培養物、土壤樣品等中的溶解物種。Learn MorepQA可擕式四極杆分析儀 -
用於多流發酵氣體分析的質譜儀。可連接多達80個生物反應器，有高流量和低流量配置。具有OPC連接功能，可輸出原始值和衍生值。例如，OUR、CER、RQ，最多可有80個流。Learn MoreQIC BioStream -
SIMS工作站將動態和靜態SIMS分析與雙模式質譜儀結合起來，用於正(+ve)和負(-ve)離子檢測，以及額外的二級中性質譜(SNMS)檢測模式，為表面分析應用提供了卓越的靈活性。Learn MoreSIMS/SNMS 工作站 -
HPR-60 MBMS（分子束質譜儀）為分析正（+ve）和負（-ve）離子，以及中性和自由基進行了優化，使其成為等離子體和燃燒分析的強大解決方案。Learn MoreHPR-60 MBMS -
MBE應用中的多源沉積監測。高抗污染目的設計的四極杆，用於沉積率監測、源品質分析和高性能真空診斷。Learn MoreXBS -
先進熱脫附分析系統 TDSLab 系列代表了熱脫附技術的最前沿，為多種應用提供客製化解決方案。其兼具精準性、可靠性與靈活性，廣泛適用於科研與產業領域。Learn MoreTDSLab Series 先進熱脫附分析系統