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Hiden Analytical
我們設計、開發和製造用於高級研究應用和專業過程監測的四極桿質譜儀。
我們的產品範圍包括：用於實時精確氣體分析的系統，多種氣體/蒸氣分析。通過直接測量Plasma離子和離子能量進行診斷。用於超高壓表面科學的SIMS探針，以及蝕刻終點檢測。具有自動分析功能的綜合完整的表面分析SIMS系統。一系列用於催化劑研究的微爐反應器，用於進行溫度編程分析，技術包括TPO/TPD/TPR和TPRx。
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Hiden 緊湊型SIMS（二次離子質譜）具有較低的外形尺寸和簡單的用戶友好佈局，在整個週期表中具有出色的同位素靈敏度。Learn MoreCompact SIMS -
作為一個強大的表面分析解決方案，AutoSIMS適用於高產能操作，每天可進行數百次加工，無需操作員干預Learn MoreAutoSIMS -
SIMS工作站將動態和靜態SIMS分析與雙模式質譜儀結合起來，用於正(+ve)和負(-ve)離子檢測，以及額外的二級中性質譜(SNMS)檢測模式，為表面分析應用提供了卓越的靈活性。Learn MoreSIMS/SNMS 工作站 -
Hiden TOF-qSIMS系統是為廣泛的材料的表面分析和深度剖析應用而設計的，包括聚合物、藥品、超導體、半導體、合金、光學和功能塗層以及電介質，對微量成分的測量可達到sub-ppm水準。Learn MoreToF-qSIMS 工作站 -
The Hiden Dual Polarity SIMS Workstation uniquely captures positive and negative secondary ions simultaneously, delivering a complete chemical profile in a single run. Using dual opposing EQS spectrometers for enhanced collection efficiency. Compatible with all ion guns, it provides fast, accurate results for applications from solar cells and oxides to dopants and trace impurities.Learn MoreDual Polarity SIMS Workstation -
Hiden EQS（靜電四極杆）具有高傳輸率和集成的45°靜電扇形能量分析器，是一種多功能的正負離子SIMS檢測器，用於納米級的表面分析應用。Learn MoreEQS SIMS Analyser -
Hiden MAXIM是一個完整的四極杆質譜系統，帶有高透射光學和三重品質篩檢程式，支持在高達1000個原子品質單位（AMU）的品質範圍內進行詳細的表面成分測繪。Learn MoreMAXIM -
IG5C的特點是低功率、高亮度、表面電離源與一個緊湊的離子柱相配合，在一個小包裝中提供高性能。IG5C被設計為所有SIMS應用的主要離子束，包括動態、靜態和成像。Learn MoreIG5C -
Hiden IG20主要為氧氣相容而設計，是一種高性能的電子衝擊離子源，具有高電流密度，可產生直徑僅為100微米（µm）的強光。Learn MoreIG20