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Hiden Analytical
我們設計、開發和製造用於高級研究應用和專業過程監測的四極桿質譜儀。
我們的產品範圍包括：用於實時精確氣體分析的系統，多種氣體/蒸氣分析。通過直接測量Plasma離子和離子能量進行診斷。用於超高壓表面科學的SIMS探針，以及蝕刻終點檢測。具有自動分析功能的綜合完整的表面分析SIMS系統。一系列用於催化劑研究的微爐反應器，用於進行溫度編程分析，技術包括TPO/TPD/TPR和TPRx。
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數據重播技術，用於預測終點與製程優化 Hiden EP-Replayer 可讓 IMP-EPD 使用者重播先前的蝕刻數據，有助於建立與優化終點檢測配方。透過在演算法式配方模板中定義變數，使用者能即時模擬並優化終點檢測過程。Learn MoreEP-Replayer -
MBE應用中的多源沉積監測。高抗污染目的設計的四極杆，用於沉積率監測、源品質分析和高性能真空診斷。Learn MoreXBS -
先進熱脫附分析系統 TDSLab 系列代表了熱脫附技術的最前沿，為多種應用提供客製化解決方案。其兼具精準性、可靠性與靈活性，廣泛適用於科研與產業領域。Learn MoreTDSLab Series 先進熱脫附分析系統 -
SIMS工作站將動態和靜態SIMS分析與雙模式質譜儀結合起來，用於正(+ve)和負(-ve)離子檢測，以及額外的二級中性質譜(SNMS)檢測模式，為表面分析應用提供了卓越的靈活性。Learn MoreSIMS/SNMS 工作站 -
Hiden TOF-qSIMS系統是為廣泛的材料的表面分析和深度剖析應用而設計的，包括聚合物、藥品、超導體、半導體、合金、光學和功能塗層以及電介質，對微量成分的測量可達到sub-ppm水準。Learn MoreToF-qSIMS 工作站 -
Hiden 緊湊型SIMS（二次離子質譜）具有較低的外形尺寸和簡單的用戶友好佈局，在整個週期表中具有出色的同位素靈敏度。Learn MoreCompact SIMS -
作為一個強大的表面分析解決方案，AutoSIMS適用於高產能操作，每天可進行數百次加工，無需操作員干預。Learn MoreAutoSIMS -
Hiden EQS（靜電四極杆）具有高傳輸率和集成的45°靜電扇形能量分析器，是一種多功能的正負離子SIMS檢測器，用於納米級的表面分析應用。Learn MoreEQS SIMS Analyser -
Hiden MAXIM是一個完整的四極杆質譜系統，帶有高透射光學和三重品質篩檢程式，支持在高達1000個原子品質單位（AMU）的品質範圍內進行詳細的表面成分測繪。Learn MoreMAXIM